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適合低通濾光片和藍色濾光片晶體板紋理不均檢查技術介紹

發布日期：2024-05-27 瀏覽次數：716

適合低通濾光片和藍色濾光片晶體板紋理不均檢查技術介紹

用監視器目視觀察光學元件的光學不均勻性的裝置。

該檢查裝置是將水晶板、玻璃等透明物體內部的條紋、表面的拋光不均、拋光痕跡可視化的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍色濾光片的晶體板。

觀察到的圖像背景中有微弱的斑駁圖案。這是由于安裝的鏡頭等光學元件的表面拋光造成的，會妨礙觀察。專用軟件“ClearBack"使背景清晰，檢查更輕松。有一種稱為紋影法的觀察方法可以可視化折射率的變化，但該裝置的觀察方法是陰影圖法。這可以防止由于刀口處發生干擾而導致圖像變得模糊。

檢查方法	陰影圖法，顧名思義，就是“陰影圖"。從點光源發出的光被一個透鏡轉換成平行光，然后被下一個透鏡會聚以拍照。如果將有條紋等缺陷的樣品放置在兩個透鏡之間，平行光就會受到干擾，導致圖像中出現亮度不均勻的區域。
觀察范圍	約φ45mm
光源	高亮度藍光LED
測量波長	450-465nm
有效像素	1080(水平)×824(垂直)
調光功能	音量調暗
外形尺寸（主體）	水平（標準）W1030 x D160 x H205mm 垂直（可選）W380 x D455 x H1245mm
體重（身體）	29公斤
作品	主機/PC/電纜
配件	樣品架/機身蓋
選項	立式支架（重量：10kg）
使用環境	攝氏度10~35度濕度20~80%（無凝結）
顯示器最大分辨率	1920 x 1200（24 英寸寬）
操作系統	Windows 10（64位）
軟件	專用軟件“ClearBack" 圖像亮度不均勻校正使背景均勻，更容易確認缺陷。

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