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日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測(cè)

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更新日期：2025-05-02

簡(jiǎn)要描述：

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測(cè)CRN-100
超高電阻范圍：以非接觸方式測(cè)量10E + 9至10E + 15Ω/□
平面多點(diǎn)測(cè)量功能

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測(cè)

詳細(xì)介紹

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測(cè)CRN-100

產(chǎn)品特點(diǎn)

超高電阻范圍：以非接觸方式測(cè)量10E + 9至10E + 15Ω/□
平面多點(diǎn)測(cè)量功能
2D / 3D映射圖像顯示
Windows 7軟件
測(cè)量數(shù)據(jù)可以CSV文件格式輸出
由于是非接觸型，因此可以不受接觸電阻的影響進(jìn)行測(cè)量。

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

*通常，可以測(cè)量本設(shè)備測(cè)量范圍內(nèi)的任何樣品。請(qǐng)聯(lián)xi我們。

?超高電阻薄膜樣品（a-Si，IGZO等）

?半導(dǎo)體材料接近絕緣

?導(dǎo)電橡膠

這樣

測(cè)量尺寸

尺寸：z大300 x 400毫米

厚度：z大2毫米

*我們可以自定義您的要求，例如尺寸支持。請(qǐng)聯(lián)xi我們。

測(cè)量范圍

10E + 9?10E + 15Ω/□

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